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CHINMAX PRODUCT

中茂儀器股份有限公司 代理經銷各種膜厚測試儀器

乾燥製程設備、 環境測試設備、腐蝕試驗設備、 各種泛用型儀器

XRF元素分析

  • 貴金屬含量分析

貴金屬含量分析

株式会社 テクノエックス TECHNO-X FD-J

TECHNO-X FD-J

  • **針對貴金屬元素分析開發的分析裝置。
  • **操作及結果顯示都在前面板完成。
  • **小型的設計,容易擺放。
  • **照射面積極小(1mm),可分析微小面物品。
  • **測量時間只要10秒。
  • **一個按鍵即可完成測量動作,誰都可以輕易上手。
  • **搭載wifi功能,可以與其他裝置連接。

機型規格表

測定原理能量分散型螢光X線分析法
X線光學系統下方照射光學系統
測定對象 固體・粉體
定性元素範圍Ti～U
定量方式FP法　及　檢量線法
測定環境大氣測定
安全機構2重安全機構：機械鎖定＋電器內鎖定
軟體測定・表示・演算・解析軟體
消耗品高分子膜（6μm）

塑膠試品盒

※(注) 規格如有更改恕不另行通知。